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相襯顯微鏡是一種特殊的顯微鏡，特別適用于觀察具有很高透明度的對象，例如生物切片、油膜和位相光柵等等。光波通過這些物體，往往只改變入射光波的位相而不改變入射光波的增幅，由于人眼及所有能量檢測器只能辨別光波強度上的差別，也即振幅上的差別，而不能辨別位相的變化，因此用普通顯微鏡是難以觀察到這些物體的。
查看詳情>>掃描隧道顯微鏡（STM）的基本原理是利用量子理論中的隧道效應。
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy, AFM)是由IBM 公司的Binnig與史丹佛大學的Quate 于一九八五年所發明的，其目的是為了使非導體也可以采用掃描探針顯微鏡（SPM）進行觀測。
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